MCU 测试芯片嵌入 10.8 Mbit STT-MRAM 存储器
具有 10.8 Mbit 磁阻随机存取存储器 (MRAM) 存储单元阵列的原型 MCU 测试芯片（采用 22 nm 嵌入式 MRAM 工艺制造）声称可以实现超过 200 MHz 的随机读取访问频率和 10.4 MB...
创意电子推出90纳米ARM926EJ测试芯片UTP0010A
创意电子(GlobalUnichip，GUC)推出90纳米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其测试芯片(testchip)UTP0010A，为客户大幅缩短系统设计的建构时间，并为ARM核心整合的过程降低许多风险。UTP0010A以可合成
分类：电子测量 时间：2007-12-18 阅读：1481 关键词：创意电子推出90纳米ARM926EJ测试芯片UTP0010A
工研院芯片以Cadence 的Encounter低功率测试芯片
益华计算机(Cadence)宣布，工业技术研究院(ITRI)系统芯片技术发展中心(STC)成功地利用Cadence(r)的Encounter(r)数字IC设计平台以及其RTL-GDSII低功率设计法设计出一颗低功率的测试芯片。其负责工研院的「App
分类：其它 时间：2007-12-05 阅读：1603 关键词：工研院芯片以Cadence 的Encounter低功率测试芯片
英飞凌推出测试芯片消除VIA缺陷提高产品的可靠性英飞凌公司在全球范围内率先推出一种全新方法，该方法可消除高度集成半导体电路制造过程中引起产品缺陷的一个最常见原因：过孔电气故障。“过孔（VIA）”表示“垂直互...
分类：其它 时间：2007-12-04 阅读：1635 关键词：英飞凌推出测试芯片消除VIA缺陷
